Hawk 200高精密测量系统

  Hawk 200高精密测量系统

Hawk 200利用一流的光学成像与高精密测量平台相结合，为复杂的元器件提供简便精确的3-坐标测量，包括黑色的或透明的塑料。

Hawk 200三维测量显微镜 - 综述

英国工业显微镜有限公司的Hawk 200非接触式测量显微镜提供高可重复性的精度，能针对任何材料制造的复杂元器件进行3-坐标测量。

从简单的手工、单一特性作业至复杂的元器部件测量，Hawk 200为各类的测量要求提供组合式的和灵活的解决方案。

复杂元器件的准确测量通过使用高对比度、高分辨率光学成像来完成，为快捷和简易的测量，能提供强化的表面清晰度。关键的零部件能绝对地被测量。

高可重复的精度，3-坐标（X, Y, Z）测量

专利的光学成像明确地辨别轮廓，提供卓越的分辨率和对比度

强劲和直观的微处理器给予简易的、快捷的测量结果

高精密的测量平台选配件

选配安装摄像机进行成像采集

模块化和灵活的组合有助于未来的系统升级

直观的微处理器

Hawk 200是英国工业显微镜有限公司的非接触式测量系统Hawk系列的初级系统产品，配置高精密和高性能的两款测量平台的选配，从而非常适用于对紧公差、精密元器件，或难以观察的零部件（如反差小的塑料）等的高精度3-坐标测量。数据处理由 一个强劲的QC-200 多功能微处理器完成，并以操作简便为主而设计。

直观的QC-200 软件配有英语、法语、德语、意大利语、葡萄牙语、西班牙语、瑞典语、捷克语、波兰语、土耳其语、日语和汉语等多国语言。

Hawk 200三坐标测量机 - 详细说明

Hawk 200是以精密和简易为主而设计，从而非常适用于对各类型的元器件形状的常规质量管理。Hawk 200给予令人钦佩的精确度、可重复性以及重现性，并有各类的选配件和附属配件可供选配，其中包括成像采集、全几何的计算机数据处理和视频边缘辨别（VED）。

优异的光学技术

精密元器件的精确非接触式测量要求高分辨率、高对比度成像、和结合一个精密的测量平台。

Hawk 200采用英国工业显微镜有限公司的专利高能光学技术，为快捷和简易的测量，提供强化的表面清晰度。优异的光学透明度同时能同步地进行细致的视觉检测。 有所视频系统数码化光学信息。Hawk 200与其区别之处，是运用一个没经过测量前处理的纯光学成像。元器部件必能准确地被测量。

精密测量平台

Hawk 200可选配各种高规范、高性能的测量平台，提供测量规格可达 400毫米x 300毫米(16英吋x 12英吋)。所有的测量平台均已通过非线性误差修正（NLEC）方法进行出厂前的预装校准，以保证优良的精度，这校准可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以符合ISO9000质量认证。结合0.5μm分辨力的测量译码器，这绝对保证该系统2μm的可重复性精度。*

直观的微处理器

数据处理由 QC-200 多功能微处理器完成，QC-200 最适用于测量普通元器件的外貌特征，例如圆、角、线、弧及距离，并且以操作简便为主而设计，采用了一个直观的界面装置及有实质的视觉显示。X、Y和Z坐标测量是以数字和图解形式表示。输出连接包括USB端口、并联端口和串联端口。

选配件和附属配件

表面光和底部光照明装置选配件能使光源调节适用于任何测量应用。表面光照明装置由一组6-点光的无影环形灯提供，可加装同轴光装置（光线透过物镜）的选配件，用于观察盲孔或深层形状。快速更换的低放大倍率选配件为：x10倍、x20倍、x50倍和x 100倍（x20倍作为标配），配置高倍率物镜，并可装插在四孔位的物镜转换器上，其放大倍率为：x50倍、x100倍、x200倍、x500倍和x 1000倍。    

采用200毫米 x 150毫米的测量平台（x200 的系统放大倍率，控温摄氏20度，使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点）

QC-200二维检测微处理器

Quadra-Chek 数字读数器及计量软件是二维几何元器件测量和检测的首要系统。QC-200数字读数器是非接触式测量系统Hawk系列里的初级界面装置，提供一个强劲的组合准许使用者能够沿着测量过程的每一步骤。专利的功能减少反复的测量，并简化复杂的工作步骤。

直观的使用者界面装置

一贯的、直观的界面装置保证操作员的准确性和减少培训时间。

测量戏法®

要进行测量，只需简单地将光标移至测量点并按击。无须操作员介入，QC-200辨别被测形状的类型。专利的测量戏法®功能，使用者无须改变对零部件的视线就能检测多个形状，提高效益、改进准确性和减少使用者的疲劳过度。

在不中断工作流程下，一个能听到的声音从内置扬声器发出，提醒使用者的操作，加快数据输入。

零部件编程

一次性编写一个测量次序，然后能按你所需重复地运行。在相同的位置和次序里，一个又一个地对每个零部件，测量等量的点数。

交叉及构建

通过选择曾测量的形状的记录，获取实质的交叉及构建结果，并以图解式显示。

几何公差

QC-200 特有的图解式说明瞬时地显示关键零部件尺寸的合格 / 不合格测量细节。结果和重要的测量数据被展示在有序的综合LCD液晶显示屏上。

内容相关的帮助

QC-200利用图解计算、内容相关的帮助，缩小培训时间和开支，通过Quadra-Chek界面装置规则引导车间人员。

选配件

为工种使用适当的工具。选配的遥控键盘、脚踏开关和打印机帮助操作员更便于地采集精密的测量数据，同时精简作业流程。

语言种类

标准版本QC-200 能适用于英语、法语、德语、意大利语、葡萄牙语、西班牙语、瑞典语、捷克语、波兰语、土耳其语、汉语和日语等多国语言。

Hawk 200 放大倍率选配件 x10, x20*, x50, x100, x500, x1000 表面照明装置选配件 8点光 LED 环形灯*  100瓦同轴光（光线透过物镜） 底部光照明装置 100瓦，底部光 数据处理器选配件 QC-200*  QC-300  QC-5000 * 标准选配 高精密的测量平台选配件 ​ ​ 150毫米 x 150毫米 测量平台选配件 200毫米 x 150毫米 测量平台选配件 测量范围 X Y Z 150毫米 150毫米 202 - 255毫米 200毫米 150毫米 202 - 255毫米 测量误差 U952D = 4+(5.5L/1000)μm† U952D = 2+(4.5L/1000)μm† 平台玻璃最大负荷 15公斤 20公斤 译码器分辨率 X Y Z 0.001毫米 0.001毫米 0.0005毫米 0.0005毫米 0.0005毫米 0.0005毫米 平台可重复性 X Y Z 0.004毫米 0.004毫米 0.004毫米‡ 0.002毫米 0.002毫米 0.004毫米‡ 高性能的测量平台选配件 ​ ​ 300毫米 x 225毫米 测量平台选配件 400毫米 x 300毫米 测量平台选配件 测量范围 X Y Z 300毫米 225毫米 40 - 89毫米* 400毫米 300毫米 40 - 89毫米* 测量误差 U952D = 15+(6.5L/1000)μm† U952D = 15+(8.5L/1000)μm† 平台玻璃最大负荷 25公斤 25公斤 译码器分辨率 X Y Z 0.001毫米 0.001毫米 0.001毫米 0.001毫米 0.001毫米 0.001毫米 平台可重复性 X Y Z 0.010毫米 0.010毫米 0.010毫米 0.010毫米 0.010毫米 0.010毫米 按键: 根据配置而定。 * 通过附加平台延伸件，可以将间距增大。 † 其中 L = 以毫米为单位的测量长度（x200倍的系统放大率，控制温度摄氏20度，使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点）。 ‡ 基于使用10x倍的低倍率镜头（x100倍的系统放大率）。